【獲證專利公告】恭賀! 生醫所許晉銓教授團隊研究成果「體外檢測子宮內膜異位症巴氏抹片樣本的基因檢測套組及其用於非侵入...」獲得中華民國發明專利

發明人	許晉銓教授
系所	生醫所
專利名稱	體外檢測子宮內膜異位症巴氏抹片樣本的基因檢測套組及其用於非侵入式定性判斷子宮內膜異位症惡化程度的方法 KIT FOR IN VITRO TESTING PANEL OF GENES IN PAP SMEAR SAMPLES FOR ENDOMETRIOSIS AND METHOD OF NON-INVASIVELY AND QUALITATIVELY DETERMINING SEVERITY OF ENDOMETRIOSIS USING THE KIT
證書號	I825376
公告日期	112年12月11日
專利摘要	本發明有關於一種體外檢測子宮內膜異位症巴氏抹片樣本的基因檢測套組及其用於非侵入式定性判斷子宮內膜異位症惡化程度的方法。前述基因檢測套組及其體外檢測方法使用至少九種抗體，可偵測特定SNP位點的特定基因型及其相互反應之基因產物至少一者的表現量，準確判斷子宮內膜異位症惡化程度，進而應用於體外檢測子宮內膜異位症巴氏抹片樣本的基因檢測套組。
技轉服務窗口	卓妤芸小姐 Email：chosml@mail.nsysu.edu.tw(分機2627) 施宇翔先生Email：seanshih@mail.nsysu.edu.tw(分機2625)

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