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國立中山大學 National Sun Yat-sen University

【獲證專利公告】恭賀! 材光系蘇威宏副教授及團隊之研究成果「量測物體形貌的方法」獲得中華民國發明專利

 

發明人

蘇威宏副教授

系所

材光系

專利名稱

量測物體形貌的方法

證書號

I729534

公告日期

110年6月1日

專利摘要

一種量測物體形貌的方法,包含提供一二維條紋編碼圖案;投影該二維條紋編碼圖案至一待測物體;利用一影像擷取裝置擷取該二維條紋編碼圖案在該待測物體上的反射影像;以及利用一影像處理器分析該影像資料,以辨識該待測物體的形貌。該二維條紋編碼圖案包含:多個條紋,所述條紋包含多個亮紋與多個暗紋,其中所述亮紋與暗紋彼此平行並沿著一X軸方向交替排列;其中每一條紋在一Y軸方向上具有一脈衝式的灰階變化,該Y軸方向垂直於該X軸方向;該脈衝式的灰階變化具有一特定週期;其中至少有兩個以上的條紋,其脈衝式灰階變化的週期不同。

 

 

技轉服務窗口

林淑英(分機2686)

 

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