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國立中山大學 National Sun Yat-sen University

【獲證專利公告】恭賀! 材光系蘇威宏副教授及團隊之研究成果「適用於瞬時形貌量測二維編碼條紋投影的方法」獲得中華民國發明專利

 

發明人

蘇威宏副教授

系所

材光系

專利名稱

適用於瞬時形貌量測二維編碼條紋投影的方法

證書號

I719588

公告日期

110年2月21日

專利摘要

一種適用於瞬時形貌量測二維編碼條紋投影的方法,該方法包括一投影步驟、一取像步驟、一轉換步驟及一展開步驟。利用二維條紋編碼圖案配合傅立葉轉換的方式,即使表面顏色或反射率隨位置快速變化,二維條紋編碼圖案也能很好地區分條紋順序。

 

 

技轉服務窗口

林淑英(分機2686)

 

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