【獲證專利公告】恭賀! 資工系蔣依吾教授及團隊之研究成果「眼瞼下垂檢測方法及系統」獲得中華民國發明專利
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發明人 |
蔣依吾教授 |
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系所 |
資工系 |
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專利名稱 |
眼瞼下垂檢測方法及系統 |
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證書號 |
I673034 |
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公告日期 |
108年10月11日 |
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專利摘要 |
一種眼瞼下垂檢測方法及系統，用以解決習知人工眼瞼下垂檢測方法需耗費大量時間，以及不同醫師量測不一致造成測量結果產生誤差的問題。該方法及系統係包含：以一攝影單元拍攝產生一眼部影像；以一處理單元對該眼部影像執行影像處理，產生一邊緣影像；以該處理單元對該眼部影像及該邊緣影像執行影像運算，取得複數個特徵變數；以該處理單元依據該複數個特徵變數計算，取得一特徵參數組；及以該處理單元將該特徵參數組與一預設眼瞼下垂資訊相比對，推知眼瞼下垂之嚴重程度及提眼肌之功能。
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邱識蓉(分機2625) |
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