【獲證專利公告】恭賀!材光系蘇威宏教授及團隊之研究成果「光滑物體的量測系統及其量測方法」獲得中華民國發明專利!
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發明人 |
蘇威宏教授 |
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系所 |
材光系 |
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專利名稱 |
光滑物體的量測系統及其量測方法 |
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證書號 |
I 583920 |
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公告日期 |
106年5月21日 |
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專利摘要 |
一種光滑物體的量測系統及其量測方法，該量測系統包含一屏幕、一影像擷取裝置及一影像處理裝置。將該屏幕的一條紋圖案投射至一光滑物體而形成一虛像條紋圖案，透過分析該虛像條紋圖案而獲得該光滑物體的一形貌。
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技轉服務窗口 |
曾溫仁(分機2621) |
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