【獲證專利公告】恭賀!材光系蘇威宏教授及團隊之研究成果「利用條紋投影量測光滑物體的方法」獲得中華民國發明專利!
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發明人 |
蘇威宏教授 |
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系所 |
材光系 |
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專利名稱 |
利用條紋投影量測光滑物體的方法 |
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證書號 |
I 567383 |
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公告日期 |
106年1月21日 |
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專利摘要 |
一種利用條紋投影技術量測光滑物體形貌的方法，其包含步驟：提供由一全像片攝製而成之繞射光柵，其係由至少二組干涉條紋曝光而成；利用一共軛光源產生一共軛光穿過該繞射光柵，以產生一光強度呈弦狀分佈、具備長焦深、大收斂角度的實像；將此實像投影至一待測光滑物體上；利用一影像擷取裝置擷取該實像在該待測光滑物體上的光強度分佈，以獲得一影像資料；及利用一影像處理器分析該影像資料，以解析該待測光滑物體的形貌。
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技轉服務窗口 |
曾溫仁(分機2621) |
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