【獲證專利公告】恭賀!材光系蘇威宏教授及團隊之研究成果「利用條紋投影量測透明物體的系統」獲得中華民國發明專利!
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發明人 |
蘇威宏教授 |
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系所 |
材光系 |
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專利名稱 |
利用條紋投影量測透明物體的系統 |
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證書號 |
I 553291 |
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公告日期 |
105年10月11日 |
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專利摘要 |
一種利用條紋投影技術量測透明物體的形貌或折射率的系統，其包含：一長焦深圖像產生裝置、一感光裝置及一影像處理器。該長焦深圖像產生裝置用以生成一長焦深之參考圖像。該參考圖像入射至一待測透明物體，其表面形貌與折射率導致入射後的影像受到折射而扭曲。該感光裝置用以接收該扭曲的影像。該影像處理器用以分析該扭曲影像與該參考圖像的差異，據以辨識該待測透明物體的形貌或折射率。
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田勝侑(分機2625) |
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