【獲證專利公告】恭賀!材光系蘇威宏教授及團隊之研究成果「利用條紋編碼量測物體形貌的方法」獲得中華民國發明專利!
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發明人 |
蘇威宏教授 |
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系所 |
材光系 |
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專利名稱 |
利用條紋編碼量測物體形貌的方法 |
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證書號 |
I 532974 |
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公告日期 |
105年5月11日 |
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專利摘要 |
一種利用條紋編碼量測物體形貌的方法，其包含步驟：提供一預設條紋影像，其具有至少一亮紋、至少一灰紋及至少一暗紋，且該預設條紋影像的週期為2N道條紋，在該2N道條紋之內，其中任意N道條紋的排序不重複，其中N為正整數；將該預設條紋影像投影至一待測物體上；利用一影像擷取裝置擷取該預設條紋影像在該待測物體上的一反射影像，獲得一影像資料；以及利用一影像處理器分析該影像資料，以辨識該待測物體的形貌。
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技轉服務窗口 |
林淑英(分機2686) |
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