【獲證專利公告】恭賀!化學系林伯樵教授及團隊之研究成果「利用薄層層析質譜分析化合物的方法」獲得中華民國發明專利!

發明人	林伯樵教授
系所	化學系
專利名稱	利用薄層層析質譜分析化合物的方法
證書號	I 512291
公告日期	104年12月11日
專利摘要	本發明提供一種利用薄層層析質譜分析化合物的方法，包括以下步驟：(a)提供一樣品，其中該樣品溶於一分離溶液中且該樣品中具有複數個化合物；(b)將該樣品點附於一基板(plate)上，藉由一薄層層析法(thin layer chromatography)分離該樣品，以得到複數個分析點，其中每一個分析點包括至少一個化合物；(c)將一奈米粒子溶液滴於該些分析點，使該些化合物吸附於該奈米粒子溶液中；(d)對該基板進行一乾燥步驟；以及(e)將吸附上該些化合物的該基板直接置入一質譜儀中，以進行質譜分析。

技轉服務窗口	曾溫仁(分機2621)

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