【獲證專利公告】恭賀!電機系洪子聖教授及團隊之研究成果「印刷電路板輻射干擾的估測方法」獲得中華民國發明專利!
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發明人 |
洪子聖教授 |
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系所 |
電機系 |
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專利名稱 |
印刷電路板輻射干擾的估測方法 |
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證書號 |
I 495882 |
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公告日期 |
104年8月11日 |
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專利摘要 |
一種印刷電路板輻射干擾的估測方法，其包含「提供BCI探針及向量網路分析儀」、「進行一校正步驟」、「進行一量測步驟」及「進行一估測步驟」，其中於「進行一校正步驟」中藉由校正夾具量測BCI探針之轉移阻抗，並於「進行一量測步驟」中藉由BCI探針量測待測物之量測-輸入轉移函數及輸出-輸入轉移函數，最後，於「進行一估測步驟」中根據轉移阻抗、量測-輸入轉移函數及輸出-輸入轉移函數估測待測物之輻射干擾，本發明能以低成本且快速地準確估測待測物的輻射干擾。
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田勝侑(分機2625) |
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