【獲證專利公告】恭賀!資工系李淑敏教授及團隊之研究成果「內嵌於系統級封裝之被動元件測試裝置」獲得中華民國發明專利!
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發明人 |
李淑敏教授 |
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系所 |
資工系 |
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專利名稱 |
內嵌於系統級封裝之被動元件測試裝置 |
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證書號 |
I 439710 |
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公告日期 |
103年6月1日 |
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專利摘要 |
一種內嵌於系統級封裝之被動元件測試裝置包含一振盪器、一計數單元及一控制電路。該振盪器連接測試一待測電路，該待測電路包含一被動元件，以便利用該振盪器之振盪訊號響應該被動元件。該計數單元連接至該振盪器，以便計數該振盪器之振盪訊號之頻率。該控制電路連接至該振盪器，以便控制該振盪器。利用該振盪器之振盪訊號之頻率之正常或不正常可決定該被動元件之良品或不良品。
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技轉服務窗口 |
盧加達(分機2655) |
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