發明人

洪子聖教授

系所

電機系

專利名稱

應用於射頻量測之高頻校正裝置

證書號

I 431296

公告日期

103年3月21日

專利摘要

一種應用於射頻量測之高頻校正裝置，係包含：一量測機台，具有一載台、一第一量測臂及一第二量測臂，該載台供承載一待測裝置，該第一量測臂具有一第一探針，該第二量測臂具有一第二探針，該第一量測臂與第二量測臂相對設置於該載台之兩端，各該第一探針與第二探針分別沿一直線軌跡移動以接近或遠離該載台；一高頻量測裝置，具有二高頻傳輸纜線，該二高頻傳輸纜線分別連接該第一探針及第二探針。

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趙偉志(分機2625)