【獲證專利公告】恭賀!資工系李淑敏教授及團隊之研究成果「多掃描樹測試結構的測試合成方法以及晶片測試裝置」獲得中華民國發明專利!
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發明人 |
李淑敏教授 |
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系所 |
資工系 |
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專利名稱 |
多掃描樹測試結構的測試合成方法以及晶片測試裝置 |
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證書號 |
I 431299 |
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公告日期 |
103年3月21日 |
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專利摘要 |
一種多掃描樹測試結構的測試合成方法以及晶片測試裝置。此方法包含以下步驟：將晶片的電路分割成複數個分割區域；決定一掃描方向；形成複數個分層群組；找尋相容群；連接相容群；將不屬於相容群的掃描細胞連接成掃描鏈。此方法可應用於晶片測試裝置中。
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技轉服務窗口 |
盧加達(分機2655) |
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