【獲證專利公告】恭賀!資工系李淑敏教授及團隊之研究成果「用於晶片測試之輸出資料壓縮器」獲得中華民國發明專利!
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發明人 |
李淑敏教授 |
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系所 |
資工系 |
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專利名稱 |
用於晶片測試之輸出資料壓縮器 |
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證書號 |
I 398652 |
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公告日期 |
102年6月11日 |
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專利摘要 |
一種用於晶片測試之輸出資料壓縮器包含一快速錯誤偵測單元、一門檻表決單元及一診斷單元。該快速錯誤偵測單元連接測試數個待測晶片；該門檻表決單元連接至該快速錯誤偵測單元，以判斷多數該待測晶片之輸出；該診斷單元連接至該門檻表決單元，以提供一判斷值；其中利用該診斷單元之判斷值之回饋至該待測晶片，以決定該待測晶片之錯誤位置。
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技轉服務窗口 |
趙偉志(分機2625) |
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