發明人

洪子聖教授

系所

電機系

專利名稱

高頻特性量測校正基板及使用其之向量網路分析儀校正程序

證書號

I 392878

公告日期

102年4月11日

專利摘要

一種高頻特性量測校正基板，其包含一金屬層、一上介電層以及一下介電層，該金屬層係具有一上表面及一下表面，該上表面係設有一第一側邊顯露區、一第一側邊遮蔽區及一位於該第一側邊顯露區與該第一側邊遮蔽區之間的第一中間遮蔽區，該第一側邊遮蔽區與該第一中間遮蔽區係分別具有一第一寬度及一第二寬度，該下表面係設有一第二側邊顯露區、一第二側邊遮蔽區及一位於該第二側邊顯露區與該第二側邊遮蔽區之間的第二中間遮蔽區，該第二中間遮蔽區係對應該上表面之該第一中間遮蔽區，且該第二側邊遮蔽區與該第二中間遮蔽區係分別具有一第三寬度及一第四寬度，該第三寬度與該第四寬度之和係等於該第一寬度與該第二寬度之和，該上介電層係形成於該金屬層之該上表面，且覆蓋該第一側邊遮蔽區及該第一中間遮蔽區，該下介電層係形成於該金屬層之該下表面，且覆蓋該第二側邊遮蔽區及該第二中間遮蔽區。

技轉服務窗口

趙偉志(分機2625)