發明人

鄭木海教授

系所

光電系

專利名稱

大動態範圍之波前量測器及方法

證書號

I387735

公告日期

102年3月1日

專利摘要

本發明提出一種配置簡單、且可提供180度動態量測範圍之波前量測系統，其能夠量測各種形態的雷射光場波前。本發明之波前量測系統包括一擷取裝置與一斜率量測裝置，該擷取裝置可移動以自一入射光束中擷取不同位置的待測光束，該斜率量測裝置可對應於所擷取之待測光束而移動及旋轉，以測得入射光束中不同位置的待測光束的波前前進角度。本發明也提出一種大動態範圍之波前量測方法。

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