發明人

李淑敏教授

系所

資工系

專利名稱

以交連線與佈局為導向之多重掃描樹以降低測試時間與資料量以及繞線最佳化之測試合成方法以及其裝置

證書號

I366767

公告日期

101年6月21日

專利摘要

..一種以交連線與佈局為導向之多掃描樹測試結構的測試合成方法，以及應用其測試合成方法之晶片測試結構裝置。多重掃描樹可用於系統晶片的測試中以有效的降低測試資料量與測試時間。先前技術針對掃描樹合成的研究很少考量繞線長度的問題，因此所產生出來的掃描樹繞線路徑都相當的長。在本發明所提出的方法中，提出依據掃描單元(Scan cell)密度產生動態叢集(density－driven dynamic clustering)演算法來找尋掃描樹中的掃描單元的叢集特性。另外，還提出依據相容性以分割具相容特性之掃描單元群(compatibility－based clique partition)的演算法來決定掃描樹的樹狀拓撲。最後，利用voronoi圖以用來建立掃描單元的連接順序。相較於先前的掃描樹架構，本發明之方法有效地考量測試的壓縮率和繞線的長度，可以減少1.29倍到3.16倍的繞線長度，並且可以降低1.43倍到2.07倍的測試資料量。

技轉服務窗口

王衍評副理(分機2625)